PIFOC® Objective & PInano® Scanner di Campioni per la Microscopia

Scanner per Microscopia PIFOC® e PInano®

Gli scanner Piezo flexure e gli scanner per obiettivi delle serie PIFOC® e PInano® offrono un'elevata dinamica nelle attività di posizionamento e scansione. Come prodotti standard sono disponibili soluzioni ideali per il posizionamento dei campioni XY parallelo e verticale rispetto all'asse ottico e la messa a fuoco in Z dell'obiettivo. Gli stages sono anche disponibili in pratici sistemi insieme al controllore, a tutti i cavi di collegamento necessari ed al software. Come tutti i sistemi piezo, gli stages e gli scanner per microscopia vengono consegnati precalibrati completi d log di misura. 

Scanners per Obiettivi PIFOC® per la Microscopia

Novità

P-725.xCDE1S PIFOC Scanner System for Microscope Objectives

Dynamic focus scanner of the entry-level class for travel ranges up to 400 µm, incl. controller

P-725.xCDE2 PIFOC Focus Scanner for Microscope Objectives

Dynamic Scanning with Travel Ranges of 100 µm, 400 µm, or 800 µm

P-726 PIFOC High-Load Focus Scanner

Highly Dynamic Focus Scanner with Long Travel Range for Heavy Objectives

V-308 Voice Coil PIFOC Focus Drive for Objectives

High-dynamics positioner for microscope objectives

ND72Z2LAQ PIFOC Objective Scanning System 2000 µm

Nanometer Resolution and Fast Step-and-Settle

P-725.CDD PIFOC High Dynamics Piezo Scanner

Nanopositioner and Scanner for Microscope Objectives

Stages per Campioni Verticale per la Microscopia

P-737 PIFOC Specimen Z Positioners

With Large Aperture and Low Profile

P-736 PInano® Z Microscope Scanner

Inexpensive, with Low Profile

Scanners Piezo a Flessione XY(Z) PInano®

P-545.xR8S PInano® XY(Z) Piezo System

Inexpensive Nanopositioning System for High-Resolution Microscopy

P-545.xC8S PInano® Cap XY(Z) Piezo System

Capacitive Position Measuring for Super-Resolution Microscopy

P-545.3D8S PInano® Trak Piezo Tracking System

Fast XY(Z) Stage for High Dynamics Microscopy